Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Altres autors: Awane, Tohru., Ishikawa, Nobuhiro., Kimura, Takashi., Nakamura, Morihiko., Nishida, Kenji., Tanuma, Shigeo.
Format: Article
Idioma:English
Matèries:
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt