Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials /

Bewaard in:

Bibliografische gegevens
Andere auteurs:	Awane, Tohru., Ishikawa, Nobuhiro., Kimura, Takashi., Nakamura, Morihiko., Nishida, Kenji., Tanuma, Shigeo.
Formaat:	Artikel
Taal:	English
Onderwerpen:	Dispersive spectrometry Electron microprobe analysis Inclusion Particle Stainless steel Thin film X ray spectrometry
Tags:	Voeg label toe Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Omschrijving
Geen beschrijving beschikbaar.

Gelijkaardige items