Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials /

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Daljnji autori: Awane, Tohru., Ishikawa, Nobuhiro., Kimura, Takashi., Nakamura, Morihiko., Nishida, Kenji., Tanuma, Shigeo.
Format: Članak
Jezik:English
Teme:
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt