Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials /

Đã lưu trong:
書目詳細資料
其他作者: Awane, Tohru., Ishikawa, Nobuhiro., Kimura, Takashi., Nakamura, Morihiko., Nishida, Kenji., Tanuma, Shigeo.
格式: Bài viết
語言:English
主題:
標簽: 添加標簽
沒有標簽, 成為第一個標記此記錄!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt