Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials /

Đã lưu trong:

Chi tiết về thư mục
Tác giả khác:	Awane, Tohru., Ishikawa, Nobuhiro., Kimura, Takashi., Nakamura, Morihiko., Nishida, Kenji., Tanuma, Shigeo.
Định dạng:	Bài viết
Ngôn ngữ:	English
Những chủ đề:	Dispersive spectrometry Electron microprobe analysis Inclusion Particle Stainless steel Thin film X ray spectrometry
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt


LEADER	01108nam a2200373 4500
001	DLU090097216
005	##20091201
040	#	#	\|a DLU \|b eng
041	#	#	\|a eng
044	#	#	\|a us
245	#	#	\|a Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials / \|c Tohru Awane ... [et al.].
653	#	#	\|a Dispersive spectrometry
653	#	#	\|a Electron microprobe analysis
653	#	#	\|a Inclusion
653	#	#	\|a Particle
653	#	#	\|a Stainless steel
653	#	#	\|a Thin film
653	#	#	\|a X ray spectrometry
700	#	#	\|a Awane, Tohru.
700	#	#	\|a Ishikawa, Nobuhiro.
700	#	#	\|a Kimura, Takashi.
700	#	#	\|a Nakamura, Morihiko.
700	#	#	\|a Nishida, Kenji.
700	#	#	\|a Tanuma, Shigeo.
773	#	#	\|t Analytical Chemistry \|g Vol. 75, no. 15 (August 2003), p. 3831-3836
920	#	#	\|a Phòng Tạp chí -- Trung tâm Thông tin - Thư viện Trường Đại học Đà Lạt
994	#	#	\|a DLU
900	#	#	\|a True
911	#	#	\|a Trương Bảo Trâm Anh
925	#	#	\|a G
926	#	#	\|a A
927	#	#	\|a BB
980	#	#	\|a Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Những quyển sách tương tự