Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials /

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書誌詳細
その他の著者: Awane, Tohru., Ishikawa, Nobuhiro., Kimura, Takashi., Nakamura, Morihiko., Nishida, Kenji., Tanuma, Shigeo.
フォーマット: 論文
言語:English
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Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt