Grazing exit electron probe microanalysis of submicrometer inclusions in metallic materials /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים:	Awane, Tohru., Ishikawa, Nobuhiro., Kimura, Takashi., Nakamura, Morihiko., Nishida, Kenji., Tanuma, Shigeo.
פורמט:	Bài viết
שפה:	English
נושאים:	Dispersive spectrometry Electron microprobe analysis Inclusion Particle Stainless steel Thin film X ray spectrometry
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

Thư viện lưu trữ:	Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

פריטים דומים