Roles of gate-oxide thickness reduction in scaling bulk and thin-body tunnel field-effect transistors

Tunnel field-effect transistor (TFET) has recently been considered as a promising candidate for low-power integrated circuits. In this paper, we present an adequate examination on the roles of gate-oxide thickness reduction in scaling bulk and thin-body TFETs. It is shown that the short-channel perf...

Descrición completa

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Những tác giả chính: Nguyễn, Đăng Chiến, Dao Thi Kim Anh, Chun-Hsing Shih
Formato: Journal article
Idioma:English
Publicado: 2023
Những chủ đề:
Acceso en liña:https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/2076
Các nhãn: Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt