Sub-10nm tunnel field-effect transistor with graded Si/Ge heterojunction

This study presents a new sub-10-nm tunnel field-effect transistor (TFET) with bandgap engineering using a graded Si/Ge heterojunction. Both the height and width of the tunneling barrier are highly controlled by applying gate voltages to ensure a near ideal sub-5-mV/dec switching of scaled sub-10-nm...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
Những tác giả chính: Chun-Hsing Shih, Nguyễn, Đăng Chiến
פורמט: Journal article
שפה:English
יצא לאור: IEEE Publishing 2024
נושאים:
גישה מקוונת:https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/3297
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt