Sub-10nm tunnel field-effect transistor with graded Si/Ge heterojunction

This study presents a new sub-10-nm tunnel field-effect transistor (TFET) with bandgap engineering using a graded Si/Ge heterojunction. Both the height and width of the tunneling barrier are highly controlled by applying gate voltages to ensure a near ideal sub-5-mV/dec switching of scaled sub-10-nm...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Chun-Hsing Shih, Nguyễn, Đăng Chiến
التنسيق: Journal article
اللغة:English
منشور في: IEEE Publishing 2024
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/3297
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt