A source-side injection lucky electron model for Schottky barrier metal-oxide-semiconductor devices

This letter explores source-side injection in Schottky barrier metal-oxide-semiconductor (MOS) devices. Unlike drain-side injection in conventional MOS devices, a source-side lucky electron model predicts the specific source-side injection in Schottky barrier MOS devices. The source-side electric fi...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Những tác giả chính: Chun-Hsing Shih, Ji-Ting Liang, Jhong-Sheng Wang, Nguyễn, Đăng Chiến
Định dạng: Journal article
Ngôn ngữ:English
Được phát hành: IEEE Publishing 2024
Những chủ đề:
Truy cập trực tuyến:https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/3299
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

Những quyển sách tương tự