A source-side injection lucky electron model for Schottky barrier metal-oxide-semiconductor devices
This letter explores source-side injection in Schottky barrier metal-oxide-semiconductor (MOS) devices. Unlike drain-side injection in conventional MOS devices, a source-side lucky electron model predicts the specific source-side injection in Schottky barrier MOS devices. The source-side electric fi...
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Chun-Hsing Shih, Ji-Ting Liang, Jhong-Sheng Wang, Nguyễn, Đăng Chiến |
---|---|
Định dạng: | Journal article |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
IEEE Publishing
2024
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/3299 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Transverse scaling of Schottky barrier charge-trapping cells for energy-efficient applications
Bỡi: Hung-Jin Teng, et al.
Được phát hành: (2021) -
Effects of High Temperatures on Cell Reading, Programming, and Erasing of Schottky Barrier Charge-Trapping Memories
Bỡi: Jr-Jie Tsai, et al.
Được phát hành: (2023) -
Schottky barrier silicon nanowire SONOS memory with ultralow programming and erasing voltages
Bỡi: Chun-Hsing Shih, et al.
Được phát hành: (2024) -
Modified trench MOS barrier schottky (TMBS) rectifier /
Bỡi: Moon, Jin-Woo. -
Characteristics of Ni/SiC schottky diodes grown by ICP-CVD /
Bỡi: Gil, Tae-Hyun.