Lonizing radiation effects in mos oxides
This volume is intended to serve as an updated critical guide to the extensive literature on the basic physical mechanisms controlling the radiation and reliability responses of MOS oxides.
Spremljeno u:
| Glavni autor: | |
|---|---|
| Format: | Knjiga |
| Jezik: | Vietnamese |
| Izdano: |
Singapore
World Scientific
1999
|
| Serija: | International advances in solid state electronics and technology
|
| Teme: | |
| Oznake: |
Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Nam Cần Thơ |
|---|