Lonizing radiation effects in mos oxides

This volume is intended to serve as an updated critical guide to the extensive literature on the basic physical mechanisms controlling the radiation and reliability responses of MOS oxides.

Sparad:
Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman: Oldham, Timothy R
Materialtyp: Bok
Språk:Vietnamese
Publicerad: Singapore World Scientific 1999
Serie:International advances in solid state electronics and technology
Ämnen:
Taggar: Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Nam Cần Thơ

Liknande verk