Transverse scaling of Schottky barrier charge-trapping cells for energy-efficient applications
This work numerically elucidates the effects of transverse scaling on Schottky barrier charge-trapping cells for energy-efficient applications. Together with the scaled gate structures and charge-trapping dielectrics, variations in bias conditions on source-side injection are considered for properly...
Đã lưu trong:
Những tác giả chính: | Hung-Jin Teng, Yu-Hsuan Chen, Jr-Jie Tsai, Nguyễn, Đăng Chiến, Chenhsin Lien, Chun-Hsing Shih |
---|---|
Định dạng: | Journal article |
Ngôn ngữ: | English |
Được phát hành: |
MDPI
2021
|
Những chủ đề: | |
Truy cập trực tuyến: | https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/505 |
Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
Những quyển sách tương tự
-
Effects of High Temperatures on Cell Reading, Programming, and Erasing of Schottky Barrier Charge-Trapping Memories
Bỡi: Jr-Jie Tsai, et al.
Được phát hành: (2023) -
A source-side injection lucky electron model for Schottky barrier metal-oxide-semiconductor devices
Bỡi: Chun-Hsing Shih, et al.
Được phát hành: (2024) -
Schottky barrier silicon nanowire SONOS memory with ultralow programming and erasing voltages
Bỡi: Chun-Hsing Shih, et al.
Được phát hành: (2024) -
Different roles and designs of hetero-gate dielectric in single- and double-gate tunnel field-effect transistors
Bỡi: Nguyễn, Đăng Chiến, et al.
Được phát hành: (2023) -
Modified trench MOS barrier schottky (TMBS) rectifier /
Bỡi: Moon, Jin-Woo.