Strain : A solution for higher carrier mobility in nanoscale MOSFETs /
Guardado en:
| Otros Autores: | Aghoram, Umamaheswari., Chu, Min., Sun, Yongke., Thompson, Scott E. |
|---|---|
| Formato: | Artículo |
| Lenguaje: | English |
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
| Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
|---|
Ejemplares similares
-
Stress trong đời sống của con người và vật nuôi
por: Phạm Khắc Hiếu
Publicado: (1998) -
Thin-body effects in double-gate tunnel field-effect transistors
por: Nguyễn, Đăng Chiến, et al.
Publicado: (2024) -
Nghiên cứu tối ưu hóa các tham số của thân linh kiện nâng cao đặc tính điện của các transistor hiệu ứng trường xuyên hầm (TFET)
por: Nguyễn, Đăng Chiến, et al.
Publicado: (2025) -
Influence of hetero-gate dielectrics on short-channel effects in scaled tunnel field-effect transistors
por: Nguyễn, Đăng Chiến, et al.
Publicado: (2024) -
Oxide thickness-dependent effects of source doping profile on the performance of single- and double-gate tunnel field-effect transistors
por: Nguyễn, Đăng Chiến, et al.
Publicado: (2023)