Oxide thickness-dependent effects of source doping profile on the performance of single- and double-gate tunnel field-effect transistors
Operated by the band-to-band tunneling at the source-channel junction, the source engineering has been considered as an efficient approach to enhance the performance of tunnel field-effect transistors (TFETs). In this paper, we report a new feature that the effects of source doping profile on the pe...
সংরক্ষণ করুন:
প্রধান লেখক: | Nguyễn, Đăng Chiến, Chun-Hsing Shih |
---|---|
বিন্যাস: | Journal article |
ভাষা: | English |
প্রকাশিত: |
2023
|
বিষয়গুলি: | |
অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/2077 |
ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|
Thư viện lưu trữ: | Thư viện Trường Đại học Đà Lạt |
---|
অনুরূপ উপাদানগুলি
-
A very low bandgap line-tunnel field effect transistor with channel-buried oxide and laterally doped pocket
অনুযায়ী: Bui Huu Thai, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2024) -
A VERY LOW BANDGAP LINE-TUNNEL FIELD EFFECT TRANSISTOR WITH CHANNEL-BURIED OXIDE AND LATERALLY DOPED POCKET
অনুযায়ী: Bui, Huu Thai, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2024) -
Thin-body effects in double-gate tunnel field-effect transistors
অনুযায়ী: Nguyễn, Đăng Chiến, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2024) -
Suitability of low-bandgap semiconductors for energy-efficient tunnel-field effect transistors
অনুযায়ী: Nguyễn, Đăng Chiến, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2024) -
Bandgap-dependent onset behavior of output characteristics in line-tunneling field-effect transistors
অনুযায়ী: Chun-Hsing Shih, অন্যান্য
প্রকাশিত: (2023)