Oxide thickness-dependent effects of source doping profile on the performance of single- and double-gate tunnel field-effect transistors

Operated by the band-to-band tunneling at the source-channel junction, the source engineering has been considered as an efficient approach to enhance the performance of tunnel field-effect transistors (TFETs). In this paper, we report a new feature that the effects of source doping profile on the pe...

সম্পূর্ণ বিবরণ

সংরক্ষণ করুন:
গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন
প্রধান লেখক: Nguyễn, Đăng Chiến, Chun-Hsing Shih
বিন্যাস: Journal article
ভাষা:English
প্রকাশিত: 2023
বিষয়গুলি:
অনলাইন ব্যবহার করুন:https://scholar.dlu.edu.vn/handle/123456789/2077
ট্যাগগুলো: ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
Thư viện lưu trữ: Thư viện Trường Đại học Đà Lạt

অনুরূপ উপাদানগুলি